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ISO 7503-3:2016
Measurement of radioactivity — Measurement and evaluation of surface contamination — Part 3: Apparatus calibration- 발행일 : 2016-01-18
- 발행기관 : ISO
상세정보
| 분야 | ISO/TC 85/SC 2 : Radiological protection |
|---|---|
| 적용범위 | ISO 7503 and ISO 8769 are addressed to the people responsible for determining the radioactivity present on solid surfaces. ISO 7503-3:2016 applies to the evaluation of contamination on surfaces in terms of activity per unit area by direct and indirect methods of measurement and deals with the complex aspects of instrument calibration. ISO 7503-3:2016 is applicable to well-defined surfaces, such as those of equipment and facilities, containers of radioactive materials, sealed sources, and buildings or land. ISO 7503-3:2016 can be used for laboratory and equipment/installation control and for remediation and monitoring activities to comply with release criteria. This part of ISO 7503 also refers to the following: - calibration laboratories or institutions dealing with radionuclides with complex emission characteristics or radionuclides for which no reference calibration sources are available; - institutions confronted with the task to evaluate surface contaminations consisting of a radionuclide mixture; - institutions/authorities controlling nuclear material transports or material/equipment clearance according to national legislation guideline values or international convention limits. ISO 7503-3:2016 does not apply to contamination of the skin, clothing, or loose material, such as gravel. NOTE Direct evaluation of surface contamination from alpha-emitters, beta-emitters and photon emitters is dealt with in ISO 7503‑1. The test method using wipe-test samples for the evaluation of radioactive surface contaminations is dealt with in ISO 7503‑2. |
| 국제분류(ICS)코드 | 13.280 : 방사능 보호 |
| 페이지수 | 64 |
| Edition | 2 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | ISO 7503-3:2016상세보기 | Measurement of radioactivity — Measurement and evaluation of surface contamination — Part 3: Apparatus calibration | 2016-01-18 | 표준 |
| 2 | ISO 7503-3:1996상세보기 | Evaluation of surface contamination -- Part 3: Isomeric transition and electron capture emitters, low energy beta-emitters (E bêtamax less than 0,15 MeV) | 1996-11-14 | 구판 |
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