사업자등록증
해외표준
FAQ
장바구니
고객센터
해외표준 상세정보
관심표준 등록 : 표준업데이트 시 알림서비스
제공형태 더보기-
표준
판매
ISO 25498:2018
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope- 발행일 : 2018-03-16
- 발행기관 : ISO
상세정보
| 분야 | ISO/TC 202/SC 3 : Analytical electron microscopy |
|---|---|
| 적용범위 | ISO 25498:2018 specifies the method of selected area electron diffraction (SAED) analysis using a transmission electron microscope (TEM) to analyse thin crystalline specimens. This document applies to test areas of micrometres and sub-micrometres in size. The minimum diameter of the selected area in a specimen which can be analysed by this method is restricted by the spherical aberration coefficient of the objective lens of the microscope and approaches several hundred nanometres for a modern TEM. When the size of an analysed specimen area is smaller than that restriction, this document can also be used for the analysis procedure. But, because of the effect of spherical aberration, some of the diffraction information in the pattern can be generated from outside of the area defined by the selected area aperture. In such cases, the use of microdiffraction (nano-beam diffraction) or convergent beam electron diffraction, where available, might be preferred. ISO 25498:2018 is applicable to the acquisition of SAED patterns from crystalline specimens, indexing the patterns and calibration of the diffraction constant. |
| 국제분류(ICS)코드 | 71.040.50 : 물리화학적인 분석 방법 |
| 페이지수 | 38 |
| Edition | 2 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | ISO 25498:2018상세보기 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope | 2018-03-16 | 표준 |
| 2 | ISO 25498:2010상세보기 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope | 2010-05-17 | 구판 |
| 3 | ISO 25498상세보기 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope | 초안 |
관련상품
- 관련상품이 존재하지 않습니다.
다른 사람이 함께 구입한 상품
- ISO 20263:2017 - Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
- KS I 0051(2019 확인) - 주사 전자 현미경 시험 방법 통칙
- KS D ISO 22493(2017 확인) - 마이크로빔 분석－주사전자현미경－용어
- ISO 14595:2014 - Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)
- KS D ISO 16700(2018 확인) - 마이크로빔 분석－주사전자현미경－영상 배율 교정 지침
추천 상품
- IEC TS 63134:2020 - Active assisted living (AAL) use cases
- IEC 60034-5:2020 RLV - Rotating electrical machines - Part 5: Degrees of protection provided by the integral design of rotating electrical machines (IP code) - Classification
- KS B ISO TS 25740-1 - 에스컬레이터 및 무빙워크에 대한 안전요건 — 제1부: 세계공통 필수 안전요건(GESRs)
- KS B ISO TS 8100-21 - 승객 및 화물 운송용 엘리베이터 —제21부: 세계공통 필수안전요건(GESRs)을 충족하는 세계공통 안전 파라미터(GSPs)
- KS C IEC TS 62872 - 산업 시설과 스마트 그리드 사이의 산업 공정 측정, 제어 및 자동화 시스템 인터페이스
제공형태 닫기
PDF :
직접 파일 다운로드 및 인쇄(마이페이지 확인)보안PDF :
직접 파일 다운로드 및 인쇄(마이페이지 확인)* 단, 파일이동 및 복사 불가, 1회 다운로드 및 인쇄가능PRINT :
인쇄본 우편발송, 2~3일 소요(PDF파일 미제공)BOOK :
인쇄본 우편발송, 2~3일 소요(PDF파일 미제공)ZIP :
압축파일형태로 제공 (PDF, HTML, TXT, XLS 등으로 구성), 직접 파일 다운로드(마이페이지 확인)CD/DVD :
직접 파일 다운로드 및 인쇄(마이페이지 확인)DB :
별도 정보 제공HARDCOPY :
해외 배송 상품, 최대 3주 소요바인더 :
바인더 우편발송, 2~3일 소요온라인구독 :
WEB 접속 후 실시간 열람, 출력(1년간)