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ISO 14490-9:2019
Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 9: Test methods for field curvature- 발행일 : 2019-09-18
- 발행기관 : ISO
상세정보
| 분야 | ISO/TC 172/SC 4 : Telescopic systems |
|---|---|
| 적용범위 | This document specifies the test method for the determination of the deviation from a flat image surface, i.e. the sagittal and tangential field curvature of telescopic systems and observational telescopic instruments. |
| 국제분류(ICS)코드 | 37.020 : 광학기기 |
| 페이지수 | 5 |
| Edition | 1 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | ISO 14490-9:2019상세보기 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 9: Test methods for field curvature | 2019-09-18 | 표준 |
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