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KS D ISO 15632
마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석에 사용하는 에너지 분산 엑스선 분광기의 사양과 점검을 위해 선택한 기기 성능 파라미터- 발행일 : 2018-05-23
- 발행기관 : 한국표준협회
- 국제표준 부합화 : ISO 15632:2012(IDT)
상세정보
| 분야 | 금속(D) > 분석 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 표준은 반도체 검출기, 전치증폭기, 신호 처리장치와 같은 기본 부품으로 구성된 에너지 분산 엑스선 분광기의 특성을 평가할 수 있는 가장 중요한 수치들을 정의한다. 이 표준은 고상 이온화 원리로 작동하는 반도체 검출기를 이용한 분광기에만 적용할 수 있다. 이 표준은 전자 탐침 미소분석기 (EPMA) 또는 주사전자현미경(SEM)에 장착된 분광기와 관련된 최소 요구사항 및 관련 기기 성능 파라미터를 점검하는 방법을 규정한다. 실제 분석에 사용하는 절차는 KS D ISO 22309 [2] 및 ASTM E1508 [3] 에 기술되어 있으며 이 표준의 범위를 벗어난다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 | 71.040.99 : 화학 분석 관련 기타 표준 | ||||||||
| 국제표준 부합화 |
ISO 15632:2012(IDT)
※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2018-0137 호) | ||||||||
| 고시사유 | KS A 0001: 2015에 따른 서식 변경 - 3. 용어와 정의에서 '계수율' 등 8건 수정 및 추가 - '추가 성능 파라미터의 점검' 내용 수정 | ||||||||
| KS심사기준 |
|
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| 페이지수 | 14 | ||||||||
이력정보
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
| KS D ISO 15632상세보기 | 마이크로빔 분석 — 주사전자현미경(SEM) 또는 전자 탐침 미소분석기(EPMA)에서 사용하는 에너지 분산 엑스선 분광기(EDS)의 사양과 점검을 위해 선택한 기기 성능 파라미터 | 2023-11-20 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS D ISO 15632상세보기 | 마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석에 사용하는 에너지 분산 엑스선 분광기의 사양과 점검을 위해 선택한 기기 성능 파라미터 | 2018-05-23 | 개정(구판) | KS A 0001: 2015에 따른 서식 변경 - 3. 용어와 정의에서 '계수율' 등 8건 수정 및 추가 - '추가 성능 파라미터의 점검' 내용 수정 | |
| KS D ISO 15632상세보기 | 마이크로빔 분석－반도체 검출기를 이용한 에너지 분산 X선 분광기의 기기 사양 | 2012-12-07 | 개정(구판) | ||
| KS D ISO 15632상세보기 | 마이크로빔분석 - 반도체 검출기 에너지 분산 엑스선 분광기의 기기사양 | 2007-09-28 | 개정(구판) | ||
| KS D ISO 15632상세보기 | 마이크로빔 분석－반도체 검출기를 이용한에너지 분산 엑스선 분광 분석기의 기기 시방 | 2004-12-30 | 제정(구판) |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.
인용표준
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No | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
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1 | KS D ISO 23833상세보기 | 마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석 — 용어 | 2022-08-22(개정) | 한글 | 37,600원 |
인용표준 2종 이상 선택시 20% 할인
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