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KS C IEC 60747-14-1
반도체 소자 — 제14-1부: 반도체 센서 — 센서의 일반 규격- 발행일 : 2021-12-29
- 발행기관 : 한국표준협회
- 국제표준 부합화 : IEC 60747-14-1:2010(IDT)
상세정보
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | KS C IEC 60147-14의 이번 부는 센서 규격과 관련하여 다양한 종류의 센서 규격의 기초가 되는 일반적인 항목을 기술한다. 이 표준에서 언급하는 센서는 기본적으로 반도체 재료로 만들어진 것이지만, 유전체 및 강유전체 재료와 같은 반도체 이외의 재료로 이루어진 센서에도 적용 가능하다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices — Part 14-1: Semiconductor sensors — Generic specification for sensors | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 | 31.080.01 : 반도체 장치 일반 | ||||||||
| 국제표준 부합화 |
IEC 60747-14-1:2010(IDT)
※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2021-0650호) | ||||||||
| 고시사유 | 민원신청에 의한 개정 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 21 | ||||||||
이력정보
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
| KS C IEC 60747-14-1상세보기 | 반도체 소자 — 제14-1부: 반도체 센서 — 센서의 일반 규격 | 2021-12-29 | 개정(표준) | 민원신청에 의한 개정 | |
| KS C IEC 60747-14-1상세보기 | 반도체 소자 — 제14-1부: 반도체 센서 —센서의 일반 규격 | 2019-12-31 | 개정(구판) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 60747-14-1(2013 확인)상세보기 | 반도체소자 - 제14-1부 : 반도체 센서 - 일반 및 분류 | 2013-12-31 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60747-14-1(2008 확인)상세보기 | 반도체소자 - 제14-1부 : 반도체 센서 - 일반 및 분류 | 2008-11-28 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60747-14-1상세보기 | 반도체 소자－제14－1부：반도체 센서－일반 사항 및 분류 | 2003-12-29 | 개정(구판) | ||
| KS C IEC 60747-14-1상세보기 | 반도체 센서 용어 및 기호 | 1996-12-30 | 제정(구판) |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.
인용표준
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No | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
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1 | KS A IEC 60410상세보기 | 계수값 검사를 위한 샘플링 계획과 절차 | 2022-09-02(확인) | 한글 | 55,000원 | |
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2 | KS C IEC 61193-2상세보기 | 품질평가시스템－ 제2부：전자부품과 패키지 검사에 관한 샘플계획의 선정 및 사용 | 2020-11-09(확인) | 한글 | 18,000원 | |
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3 | KS Q ISO 2859-1상세보기 | 계수형 샘플링검사 절차 — 제1부: 로트별 합격품질한계(AQL) 지표형 샘플링검사 방식 | 2023-12-29(개정) | 한글 | 90,000원 |
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