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IEC TS 62396-2:2008
Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems- 발행일 : 2008-08-19
- 발행기관 : IEC
- 대체표준 : IEC 62396-2:2012;IEC 62396-2:2017
상세정보
| 분야 | TC 107 : Process management for avionics |
|---|---|
| 적용범위 | IEC TS 62396-2:2008 (E) provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Since the testing can be performed in a number of different ways, using different kinds of radiation sources, it also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes. |
| 국제분류(ICS)코드 |
03.100.50 : 생산. 생산관리
31.020 : 전자 부품 일반 49.060 : 항공 전자 장비 및 시스템 |
| 페이지수 | 27 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 62396-2:2017상세보기 | Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems | 2017-12-15 | 표준 |
| 2 | IEC 62396-2:2012상세보기 | Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems | 2012-09-27 | 구판 |
| 3 | IEC TS 62396-2:2008상세보기 | Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems | 2008-08-19 | 폐지(대체) |
| 4 | IEC PAS 62396-2:2007상세보기 | Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems | 2007-09-18 | 폐지(대체) |
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