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IEC 60679-6:2011
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines- 발행일 : 2011-03-14
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 49 : Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 60679-6:2011 applies to the phase jitter measurement of quartz crystal oscillators and SAW oscillators used for electronic devices and gives guidance for phase jitter that allows the accurate measurement of r.m.s. jitter. In the measurement method, phase noise measurement equipment or a phase noise measurement system is used. The measuring frequency range is from 10 MHz to 1 000 MHz. This standard applies to quartz crystal oscillators and SAW oscillators used in electronic devices and modules that have the multiplication or division functions based on these oscillators. The type of phase jitter applied to these oscillators is the r.m.s. jitter. This standard cancels and replaces IEC/PAS 60679-6 published in 2008. This first edition constitutes a technical revision. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.140 : 압전 장치 |
| 페이지수 | 42 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 60679-6:2011상세보기 | Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines | 2011-03-14 | 폐지 |
| 2 | IEC PAS 60679-6:2008상세보기 | Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guide | 2008-02-27 | 폐지(대체) |
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