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IEC TS 62804-1-1:2020
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1-1: Crystalline silicon - Delamination- 발행일 : 2020-01-10
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 82 : Solar photovoltaic energy systems |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 62804-1-1:2020 defines procedures to test and evaluate for potential-induced degradation-delamination (PID-d) mode in the laminate of crystalline silicon PV modules-principally those with one or two glass faces. This document evaluates delamination attributable to current transfer between ground and the module cell circuit. Elements driving the delamination that this test is designed to actuate include reduced adhesion associated with damp heat exposure, sodium accumulation at interfaces, and cathodic gas evolution in the cell circuit, metallization, and other components within the PV module activated by the voltage potential. The change in power of crystalline silicon PV modules associated with the stress factors applied (the purview of IEC TS 62804-1) is not considered in the scope. |
| 국제분류(ICS)코드 | 27.160 : 태양 에너지 공학 |
| 페이지수 | 16 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC TS 62804-1-1:2020상세보기 | Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1-1: Crystalline silicon - Delamination | 2020-01-10 | 표준 |
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