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IEC TS 62607-6-14:2020
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-14: Graphene-based material - Defect level: Raman spectroscopy- 발행일 : 2020-10-27
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 113 : Nanotechnology for electrotechnical products and systems |
|---|---|
| 적용범위 | IEC TS 62607-6-14:2020 establishes a standardized method to determine the structural key control characteristic • defect level for powders consisting of graphene-based material by • Raman spectroscopy. The defect level is derived by the intensity ratio of the D+D′ band and 2D band in Raman spectrum, ID+D′/I2D. • The defect level determined in accordance with this document will be listed as a key control characteristic in the blank detail specification for graphene IEC 62565-3-1 for graphene powder. • The method is applicable for graphene powder or graphene-based material, e.g. reduced graphene oxide (rGO), bilayer graphene, trilayer graphene and few-layer graphene. • Typical application areas are quality control and classification for graphene manufacturers, and product selection for downstream users. • The method described in this document is appropriate if the physical form of graphene is powder. |
| 국제분류(ICS)코드 | 07.120 : 나노 기술 |
| 페이지수 | 28 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC TS 62607-6-14:2020상세보기 | Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-14: Graphene-based material - Defect level: Raman spectroscopy | 2020-10-27 | 표준 |
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