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    IEC 61326-2-1:2020

    Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 2-1: Particular requirements - Test configurations, operational conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications
    • 발행일 : 2020-10-23
    • 발행기관 : IEC
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상세정보

분야 TC 65/SC 65A : System aspects
적용범위 IEC 61326:2020 specifies more detailed test configurations, operational conditions and performance criteria for equipment with test and measurement circuits (internal or, external to the equipment, or both) that are not EMC protected for operational and/or functional reasons, as specified by the manufacturer. The manufacturer specifies the environment for which the product is intended to be used and selects the appropriate test level specifications of IEC 61326-1:2020.
국제분류(ICS)코드 33.100.20 : 내성
25.040.40 : 산업 공정 측정 및 제어
17.220.20 : 전기 및 자기량 측정
페이지수 20
Edition 3.0

이력정보

No. 표준번호 표준명 발행일 상태
1 IEC 61326-2-1:2020상세보기 Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 2-1: Particular requirements - Test configurations, operational conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications 2020-10-23 표준
2 IEC 61326-2-1:2020 RLV상세보기 Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 2-1: Particular requirements - Test configurations, operational conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications 2020-10-23 표준
3 IEC 61326-2-1:2012상세보기 Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 2-1: Particular requirements - Test configurations, operational conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications 2012-10-02 구판
4 IEC 61326-2-1:2005상세보기 Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 2-1: Particular requirements - Test configurations, operational conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications 2005-12-15 구판

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