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ISO/TS 13473-4:2008
Characterization of pavement texture by use of surface profiles — Part 4: Spectral analysis of surface profiles- 발행일 : 2008-04-22
- 발행기관 : ISO
상세정보
| 분야 | ISO/TC 43/SC 1 : Noise |
|---|---|
| 적용범위 | ISO/TS 13473-4:2008 describes the methods that are available to perform a spectral analysis of pavement surface profile signals. It specifies three possible methods for spatial frequency analysis (or texture wavelength analysis) of two-dimensional surface profiles that describe the pavement roughness amplitude as a function of the distance along a straight or curved trajectory over the pavement. The result of the frequency analysis will be a spatial frequency (or texture wavelength) spectrum in constant-percentage bandwidth bands of octave or one-third-octave bandwidth. ISO/TS 13473-4:2008 offers three alternative methods to obtain these spectra: 1) analogue constant-percentage bandwidth filtering; 2) digital constant-percentage bandwidth filtering; 3) constant narrow bandwidth frequency analysis by means of Discrete Fourier Transform, followed by a transformation of the narrow-band spectrum to an octave- or one-third-octave-band spectrum. The objective of ISO/TS 13473-4:2008 is to standardize the spectral characterization of pavement surface profiles. This objective is pursued by providing a detailed description of the analysis methods and related requirements for those who are involved in pavement characterization, but are not familiar with general principles of frequency analysis of random signals. These methods and requirements are generally applicable to all types of random signals. |
| 국제분류(ICS)코드 |
93.080.20 : 도로포장
17.140.30 : 차량에서 방출되는 소음 |
| 페이지수 | 35 |
| Edition | 1 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | ISO 13473-4:2024상세보기 | Characterization of pavement texture by use of surface profiles — Part 4: One third octave band spectral analysis of surface profiles | 2024-04-18 | 표준 |
| 2 | ISO/TS 13473-4:2008상세보기 | Characterization of pavement texture by use of surface profiles — Part 4: Spectral analysis of surface profiles | 2008-04-22 | 구판 |
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