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    IEEE 300-1982

    IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
    • 발행일 : 1992-11-10
    • 발행기관 : ANSI/IEEE
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상세정보

분야
적용범위 Revision Standard - Superseded. The object of this standard is to establish standard test procedures for semiconductor charged-particle detectors. These detectors are in wide-spread use for the detection and high resolution spectroscopy of charged particles. It is desirable to maintain standard test procedures so that measurements may have the same meaning to all manufacturers and users. Not all tests described in this standard are mandatory, but tests which are used to specify performance shall be performed in accordance with the procedures described herein.
국제분류(ICS)코드
페이지수 30
Edition

이력정보

No. 표준번호 표준명 발행일 상태
1 ANSI/CAN/UL/ULC 300:2022상세보기 Fire Testing of Fire Extinguishing Systems for Protection of Commercial Cooking Equipment 2022-07-06 표준
2 IEEE 300-1982상세보기 IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors 1992-11-10 구판
3 IEEE 300-1988상세보기 IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors 1988-12-29 표준
4 IEEE 300-1969상세보기 USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) 1968-11-30 구판

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