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  • K001010025303

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    KS I 0051

    주사 전자 현미경 시험 방법 통칙
    • 변경전표준 : KS M 0044
    • 발행일 : 1999-12-31
    • 발행기관 : 한국표준협회
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상세정보

상세정보 표
분야 환경(I) > 환경일반
적용 범위 이 규격은 주사 전자 현미경을 사용하고 주로 2차 전자에 의한 시료 표면의 미소한 부분의 형태 관찰과 분석을 하는 경우의 일반적인 사항에 대하여 규정한다.
표준명(영어) General rules for scanning electron microscopy
국제표준분류(ICS)코드 37.020 : 광학기기
국제표준 부합화
고시기관(고시번호) 국가기술표준원 (제99-516호)
고시사유 .
KS심사기준
상세정보 - KS심사기준 표
발행일 상태 심사기준파일 사유
KS심사기준 정보가 존재하지 않습니다.
페이지수 13

이력정보

이력정보 표
표준번호 표준명 고시일 상태 고시사유 비고
KS I 0051상세보기 주사 전자 현미경 시험 방법 통칙 2024-12-17 개정(표준) 자체 검토에 의한 개정
KS I 0051(2019 확인)상세보기 주사 전자 현미경 시험 방법 통칙 2019-12-31 확인(구판) 5년도래 확인표준
KS I 0051(2014 확인)상세보기 주사 전자 현미경 시험 방법 통칙 2014-12-10 확인(구판)
KS I 0051(2009 확인)상세보기 성인 여성복의 치수 2009-12-18 확인(구판)
KS I 0051(2004 확인)상세보기 주사 전자 현미경 시험 방법 통칙 2004-11-30 확인(구판)
KS I 0051상세보기 주사 전자 현미경 시험 방법 통칙 1999-12-31 제정(구판) .

확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.

인용표준

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