한국표준정보망

회원가입 로그인 비회원(주문조회) 장바구니 이용안내

English
메뉴
검색 마이페이지 장바구니0

QUICK

닫기

TOP

KS개별표준 상세정보

관심표준 등록 : 표준업데이트 시 알림서비스

제공형태 더보기

  • K001010047004

    구판

    판매

    KS C IEC 60749-12

    반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제12부：진동, 가변 주파수
    • 발행일 : 2004-11-29
    • 발행기관 : 한국표준협회
    • 국제표준 부합화 : IEC 60749-12:2002(IDT)
    즐겨찾기 장바구니 담기
    닫기

    상품이 장바구니에 담겼습니다.

    장바구니로 이동

    • [한글]PDF 7,800원

    • [한글]PRINT 7,800원

상세정보

상세정보 표
분야 전기전자(C) > 반도체·디스플레이
적용 범위 이 규격은 규정된 주파수 범위 내에서 가변 주파수 진동이 내부 구조적인 요소들에 대해 미치는 영향을 알아보기 위한 시험을 기술한다. 이 시험은 파괴적이 다. 이 시험은 통상적으로 공동형 (cavity- type) 패 키지에 적용 가능하다. 일반적으로 가변 주파수 진동 시험은 IEC 60068－2－ 6에 따르지만 반도체의 특정 요구 조건 때문에 이 규 격의 세부 항목들이 적용된다.
표준명(영어) Semiconductor devices－Mechanical and climatictest methods－Part 12：Vibration, variable frequency
국제표준분류(ICS)코드 31.080.01 : 반도체 장치 일반
국제표준 부합화 IEC 60749-12:2002(IDT)

※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음
고시기관(고시번호) (제04-910 호)
고시사유
KS심사기준
상세정보 - KS심사기준 표
발행일 상태 심사기준파일 사유
KS심사기준 정보가 존재하지 않습니다.
페이지수 2

이력정보

이력정보 표
표준번호 표준명 고시일 상태 고시사유 비고
KS C IEC 60749-12상세보기 반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험방법 — 제12부: 진동, 가변 주파수 2020-07-23 개정(표준) 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영
KS C IEC 60749-12(2015 확인)상세보기 반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제12부：진동, 가변 주파수 2015-02-25 확인(구판) 최종 정비후 5년이 도래한 표준으로 확인
KS C IEC 60749-12(2009 확인)상세보기 반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제12부 : 진동, 가변 주파수 2009-12-24 확인(구판)
KS C IEC 60749-12상세보기 반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제12부：진동, 가변 주파수 2004-11-29 제정(구판)

확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.

인용표준

인용표준 표

No 표준번호 표준명 고시일 언어 제공형태 판매가격
검색된 결과가 없습니다.

관련상품

다른 사람이 함께 구입한 상품

추천 상품

제공형태 닫기

  • PDF :

    직접 파일 다운로드 및 인쇄(마이페이지 확인)

  • 보안PDF :

    직접 파일 다운로드 및 인쇄(마이페이지 확인)* 단, 파일이동 및 복사 불가, 1회 다운로드 및 인쇄가능

  • PRINT :

    인쇄본 우편발송, 2~3일 소요(PDF파일 미제공)

  • BOOK :

    인쇄본 우편발송, 2~3일 소요(PDF파일 미제공)

  • ZIP :

    압축파일형태로 제공 (PDF, HTML, TXT, XLS 등으로 구성), 직접 파일 다운로드(마이페이지 확인)

  • CD/DVD :

    직접 파일 다운로드 및 인쇄(마이페이지 확인)

  • DB :

    별도 정보 제공

  • HARDCOPY :

    해외 배송 상품, 최대 3주 소요

  • 바인더 :

    바인더 우편발송, 2~3일 소요

  • 온라인구독 :

    WEB 접속 후 실시간 열람, 출력(1년간)