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    KS C IEC 60749-7

    반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험 방법 — 제7부: 내부 수분 함량 측정 및 그 이외의 잔류 기체분석
    • 발행일 : 2020-07-23
    • 발행기관 : 한국표준협회
    • 국제표준 부합화 : IEC 60749-7:2011(IDT)
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상세정보 표
분야 전기전자(C) > 반도체·디스플레이
적용 범위 이 규격은 금속 또는 세라믹 밀봉 소자 내의 대기 중 수증기 및 다른 기체들의 함량을 측 정하는 시험이 다. 이와 같은 방법으로 밀봉된 반도체 소자에 적용될 수 있지만, 일반적으로 군사 또는 우 주 산업과 같 이 높은 신뢰성이 요구되는 산업에만 적용된다. 이 시험은 파괴적(방법 1과 2)이거나 비파괴 적(방법 3) 이다.
표준명(영어) Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods —Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
국제표준분류(ICS)코드 31.080.01 : 반도체 장치 일반
국제표준 부합화 IEC 60749-7:2011(IDT)

※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음

고시기관(고시번호) 국가기술표준원 (제2020-0142호)
고시사유 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영
KS심사기준
상세정보 - KS심사기준 표
발행일 상태 심사기준파일 사유
KS심사기준 정보가 존재하지 않습니다.
페이지수 12

이력정보

이력정보 표
표준번호 표준명 고시일 상태 고시사유 비고
KS C IEC 60749-7상세보기 반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험 방법 — 제7부: 내부 수분 함량 측정 및 그 이외의 잔류 기체분석 2020-07-23 개정(표준) 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영
KS C IEC 60749-7(2015 확인)상세보기 반도체 소자-기계 및 기후적 환경 시험 방법-제7부:내부 수분 함량 측정과 다른 내부 기체들의 분석 2015-02-25 확인(구판) 최종 정비후 5년이 도래한 표준으로 확인
KS C IEC 60749-7(2009 확인)상세보기 반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제7부 : 내부 수분 함량 측정 및 다른 내부 기체들의 분석 2009-12-24 확인(구판)
KS C IEC 60749-7상세보기 반도체 소자-기계 및 기후적 환경 시험 방법-제7부:내부 수분 함량 측정과 다른 내부 기체들의 분석 2004-11-29 제정(구판)

확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.

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