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분야 | TC 77/SC 77B : High frequency phenomena |
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적용범위 | La CEI 61000-4-2:2008 présente norme internationale se rapporte aux exigences et méthodes d'essais relatives à l'immunité des matériels électriques et électroniques, soumis à des décharges d'électricité statique produites directement par les opérateurs, et entre le personnel et des objets situés à proximité. Elle définit en outre des gammes de niveaux d'essais, qui correspondent à différentes conditions d'environnement et d'installation et elle établit des procédures d'essai. La CEI 61000-4-2:2008 a pour objet d'établir une base commune et reproductible pour l'évaluation des performances des matériels électriques et électroniques lorsqu'ils sont soumis à des décharges électrostatiques. Elle intègre également les décharges électrostatiques qui peuvent apparaître entre le personnel et des objets situés à proximité de matériels vitaux. La CEI 61000-4-2:2008 définit la forme d'onde type du courant de décharge, la gamme des niveaux d'essais, le matériel d'essai, le montage d'essai, la procédure d'essai, la procédure d'étalonnage et l'incertitude de mesure. La CEI 61000-4-2:2008 donne des spécifications pour les essais menés en "laboratoires" et "les essais après installation" réalisés sur le matériel dans l'installation finale. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition publiée en 1995, son amendement 1 (1998) et son amendement 2 (2000) et constitue une révision technique. Elle a le statut d'une publication fondamentale en CEM conformément au Guide 107 de la CEI. Les modifications principales par rapport à la première édition de cette norme et ses amendements sont les suivantes: - les spécifications de la cible ont été étendues jusqu'à 4 GHz. Un exemple de cible satisfaisant ces exigences est également fourni; - de l'information sur les champs rayonnés par une décharge homme-métal et par les générateurs de DES est donnée; - des considérations concernant les incertitudes de mesure avec des exemples de budgets d'incertitudes sont également données. |
국제분류(ICS)코드 | 33.100.20 : 내성 |
페이지수 | 129 |
Edition | 2.0 |
No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
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1 | CAN/CSA-IEC 61000-4-2:12 (R2022) | Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test (Adopted IEC 61000-4- 2:2008, second edition, 2008-12) | Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-2: Techniques d'essai et d | 2012-01-01 | 표준 |
2 | IEC 61000-4-2:2008 | Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test | 2008-12-09 | 표준 |
3 | IEC 61000-4-2:1995+AMD1:1998+AMD2:2000 CSV | Electromagnetic compatibility (EMC)- Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test | 2001-04-26 | 구판 |
4 | IEC 61000-4-2:1995/AMD2:2000 | Amendment 2 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publication | 2000-11-09 | 구판 |
5 | IEC 61000-4-2:1995+AMD1:1998 CSV | Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test | 1999-05-27 | 구판 |
6 | IEC 61000-4-2:1995/AMD1:1998 | Amendment 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publication | 1998-01-23 | 구판 |
7 | IEC 61000-4-2:1995 | Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publication | 1995-01-18 | 구판 |
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