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IEC 60060-2:2010
High-voltage test techniques - Part 2: Measuring systems- 발행일 : 2010-11-29
- 발행기관 : IEC
- 대체표준 : IEC 60060-2:2025
상세정보
| 분야 | TC 42 : High-voltage and high-current test techniques |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 60060-2:2010 is applicable to complete measuring systems, and to their components, used for the measurement of high voltages during laboratory and factory tests with direct voltage, alternating voltage and lightning and switching impulse voltages as specified in IEC 60060-1. For measurements during on-site tests see IEC 60060-3. The limits on uncertainties of measurements stated in this standard apply to test levels stated in IEC 60071-1:2006. The principles of this standard apply also to higher levels but the uncertainty may be greater. This standard also defines the terms used, methods to estimate the uncertainties of high-voltage measurements, states the requirements which the measuring systems shall meet, describes the methods for approving a measuring system and checking its components and describes the procedures by which the user shall show that a measuring system meets the requirements of this standard, including the limits set for the uncertainty of measurement. This third edition cancels and replaces the second edition, published in 1994, and constitutes a technical revision. The significant technical changes with respect to the previous edition are as follows: - The general layout and text was updated and improved to make the standard easier to use. - The standard was revised to align it with IEC 60060-1. - The treatment of measurement uncertainty estimation has been expanded. |
| 국제분류(ICS)코드 |
17.220.20 : 전기 및 자기량 측정
19.080 : 전기 및 전자 시험 및 측정기구 |
| 페이지수 | 149 |
| Edition | 3.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 60060-2:2025상세보기 | High-voltage test techniques - Part 2: Measuring systems | 2025-04-17 | 표준 |
| 2 | IEC 60060-2:2025 RLV상세보기 | High-voltage test techniques - Part 2: Measuring systems | 2025-04-17 | 표준 |
| 3 | IEC 60060-2:2010상세보기 | High-voltage test techniques - Part 2: Measuring systems | 2010-11-29 | 구판 |
| 4 | IEC 60060-2:1994/AMD1:1996상세보기 | Amendment 1 - High voltage test techniques - Part 2: Measuring systems | 1996-03-13 | 구판 |
| 5 | IEC 60060-2:1994상세보기 | High voltage test techniques - Part 2: Measuring systems | 1994-11-23 | 구판 |
| 6 | IEC 60060-2:1973/COR1:1973상세보기 | Corrigendum 1 - High-voltage test techniques - Part 2: Test procedures | 1973-01-01 | 구판 |
| 7 | IEC 60060-2:1973상세보기 | High-voltage test techniques - Part 2: Test procedures | 1973-01-01 | 구판 |
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