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IEC TS 62876-2-1:2018
Nanotechnology - Reliability assessment - Part 2-1: Nano-enabled photovoltaic devices - Stability test- 발행일 : 2018-08-29
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 113 : Nanotechnology for electrotechnical products and systems |
|---|---|
| 적용범위 | IEC TS 62876-2-1:2018 establishes a general stability testing programme to verify the stability of the performance of nanomaterials and nano-enabled photovoltaic devices (NePV) devices. These devices are used as subassemblies for the fabrication of photovoltaic modules through a combination with other components. This testing programme defines standardized degradation conditions, methodologies and data assessment for technologies. The results of these tests define a stability under standardized degradation conditions for quantitative evaluation of the stability of a new technology. The procedures outlined in this document were designed for NePV, but can be extended to serve as a guideline for other photovoltaic technologies as well. |
| 국제분류(ICS)코드 |
07.120 : 나노 기술
27.160 : 태양 에너지 공학 |
| 페이지수 | 30 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC TS 62876-2-1:2018상세보기 | Nanotechnology - Reliability assessment - Part 2-1: Nano-enabled photovoltaic devices - Stability test | 2018-08-29 | 표준 |
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