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IEC TS 62876-4-1:2025
Nanomanufacturing – Reliability assessment – Part 4-1: Nanophotonic products – Optical stability test of quantum dot enabled light conversion films: Temperature, humidity and light exposure- 발행일 : 2025-02-25
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 113 : Nanotechnology for electrotechnical products and systems |
|---|---|
| 적용범위 | IEC TS 62876-4-1:2025, which is a Technical Specification, establishes a general reliability testing programme to verify the reliability of the performance of quantum dots nanomaterials, and quantum dot enabled light conversion films (Q-LCFs). The Q-LCF is used as subassemblies for the fabrication of nano-enabled photoelectrical display devices, mainly liquid crystal display (LCD) currently, with other components. This testing programme defines standardized aging conditions, methodologies and data assessment for Q-LCF product. The results of these tests define a stability under standardized aging conditions for quantitative evaluation of the reliability of the Q-LCF. The procedures specified in this document were designed for Q-LCF but can be extended to serve as a guideline for other kinds of light conversion films or related subassemblies as well. |
| 국제분류(ICS)코드 | 07.120 : 나노 기술 |
| 페이지수 | 24 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC TS 62876-4-1:2025상세보기 | Nanomanufacturing – Reliability assessment – Part 4-1: Nanophotonic products – Optical stability test of quantum dot enabled light conversion films: Temperature, humidity and light exposure | 2025-02-25 | 표준 |
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