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KS C IEC 62321-4(2019 확인)
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량- 발행일 : 2019-12-16
- 발행기관 : 한국표준협회
- 국제표준 부합화 : IEC 62321－4:2013(IDT)
상세정보
| 분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 표준은 CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS를 사용하여 폴리머, 금속 및 전기전자 부품 내의 수은을 시험하는 방법에 대해 설명한다.이 표준은 전자전기 제품 내 포함된 수은(Hg)의 정량에 대해 규정한다. 이러한 재료들에는 폴리머, 금속 및 전기전자 부품(예를 들면, 인쇄 회로 기판, 냉 음극 형광 램프, 수은 스위치) 등이 있다. Hg를 포함하는 배터리는 [1]1)에서 설명하는 대로 취급해야 한다. 실험실 간 연구는 이 시험방법을 플라스틱에 대해서만 평가하였으며 다른 매질은 적용하지 않았다.이 표준은 처리 및 측정되기 위한 대상물을 시료로 규정한다. 시료의 내용 또는 시료를 얻는 방법은 시험을 수행하는 구성 요소를 정해 정의한다. 규제물질의 함량 측정을 위한 최종 전기전자 제품에서 대표성을 갖는 시료를 채취하기 위한 가 지침은 KS C IEC 62321－2에서 찾을 수 있다. 시료의 선택과 결정은 시험결과의 해석에 영향을 미칠 수도 있음을 유념해야 한다.이 표준은 냉증기 원자 흡수 분광 광도법(CV-AAS), 냉증기 원자 형광 분광법(CV-AFS), 유도 결합 플라스마 방출 분광법(ICP-OES), 유도 결합 플라스마 질량 분석법(ICP-MS)의 4가지 시험방법의 사용에 대하여 기술하고, 전문가가 선정한 가장 적절한 방법으로 분석하기 위한 시료 전처리 방법을 기술한다.CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS를 사용한 수은 정량은 높은 정밀도(낮은 % 범위의 불확도) 및/또는 높은 감도(?g/kg 수준 이하까지)를 제공하는 데 의미가 있다. 이 표준에서 설명하는 시험 절차는 4 mg/kg∼1 000 mg/kg 범위에서 가장 높은 수준의 정확도와 정밀도를 제공하는데 목적을 둔다. 이 절차는 더 높은 농도의 수은 함량이라 해도 제한이 없다.CV-AAS에 열분해-금 아말감 장치를 연결한 직접수은분석법[TD(G)-AAS, 열분해－금아말감－원자흡수 분광법]은 시료의 전처리 없이 수은을 분석할 수 있지만 시료를 다량 취할 수 없는 관계로 다른 방법에 비해 검출한계가 높다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Determination of certain substances in electrotechnical products — Part 4: Mercury in polymers, metals and electronics by CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES and ICP-MS | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 | 13.020 : 환경보호 일반 43.040.10 : 전기장비 | ||||||||
| 국제표준 부합화 |
IEC 62321－4:2013(IDT)
※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2019-0477호) | ||||||||
| 고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 25 | ||||||||
이력정보
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
| KS C IEC 62321-4상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량 | 2023-12-15 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 62321-4(2019 확인)상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량 | 2019-12-16 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 62321-4상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량 | 2014-12-24 | 제정(구판) | IEC/TC111 분야 국제표준 제정에 따른 부합화 |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.
인용표준
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No | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 |
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1 | KS C IEC 62321－1상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제1부: 서론 및 개요 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 18,000원 | |
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2 | KS C IEC 62321-2상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 | 2024-12-06(개정) | 한글 | 45,600원 | |
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3 | KS C IEC 62321－3-1상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 34,600원 | |
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4 | KS M ISO 3696상세보기 | 분석 실험용 물－규격 및 분석 방법 | 2020-12-30(확인) | 한글 | 12,700원 |
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