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KS C IEC 62321-2(2019 확인)
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비- 발행일 : 2019-12-16
- 발행기관 : 한국표준협회
- 국제표준 부합화 : IEC 62321－2:2013(IDT)
상세정보
| 분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 표준은 전기전자 제품, 전자 어셈블리 및 전자 구성 부품에서 기계적 시료 준비와 함께 시료 채취 방법을 제공한다. 이들 시료들은 KS C IEC 62321의 다른 부(part)의 시험방법에서 설명하는 특정 물질의 수준을 결정하는 분석 시험에 사용할 수 있다. 물질에 대한 제한 사항은 지역과 시간에 따라 다르다. 이 표준은 관심 대상 물질을 결정하기 전에 시료를 획득하고 준비하는 일반 과정에 대해 설명한다.이 표준은 다음 항목들을 다루지 않는다.― 전기전자 장비로 분류할 수 있는 각각의 모든 제품에 대한 전체 지침. 산업에서의 지속적인 혁신과 함께 여러 가지 구조와 공정을 가진 수많은 전기전자 구성 부품이 있기 때문에 모든 종류의 구성 부품의 분리에 필요한 절차를 제공하려 시도하는 것은 비현실적이다.― 비록 수집되는 정보가 이 표준의 시료 채취 전략과 관련이 있을지라도, 제품의 특정 물질에 대한 추가 정보를 모으는 다른 방법과 관련된 지침― 전기전자 제품(예: 수은을 포함하는 스위치)과 재활용 산업(예: CRT 취급 방법 및 배터리의 안전한 제거)에 관한 안전한 분해 및 기계적 분리 지침. 수은 함유 형광 램프의 분리 및 기계적 시료 준비는 IEC 62554 [2]를 참조한다.― 시료로서의 “유닛(unit)”에 대한 정의― 포장 및 포장재에 대한 시료 채취 절차― 특정 물체의 농도를 측정하기 위한 분석 절차. 이러한 절차는 다른 표준(예를 들면 KS C IEC 62321의 다른 부)에서 다루며 이 표준에서는 “시험 표준”으로 인용한다.― 적합성 평가 지침? | ||||||||
| 표준명(영어) | Determination of certain substances in electrotechnical products — Part 2: Disassembly, disjointment and mechanical sample preparation | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 | 13.020 : 환경보호 일반 43.040.10 : 전기장비 | ||||||||
| 국제표준 부합화 |
IEC 62321－2:2013(IDT)
※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2019-0477호) | ||||||||
| 고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 49 | ||||||||
이력정보
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
| KS C IEC 62321-2상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 | 2024-12-06 | 개정(표준) | - IEC 62321-2 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 62321-2(2019 확인)상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 | 2019-12-16 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 62321-2상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 | 2014-12-24 | 제정(구판) | IEC/TC111 분야 국제표준 제정에 따른 부합화 제정 |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.
인용표준
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No | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 |
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1 | KS C IEC 62321－1상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제1부: 서론 및 개요 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 18,000원 | |
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2 | KS C IEC 62321－3-1상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 34,600원 | |
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3 | KS C IEC 62321-3-2상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-2부: 연소-이온 크로마토그래피(C-IC)를 이용한 폴리머와 전기전자 제품에서 플루오린, 염소, 브로민의 스크리닝 | 2020-12-31(개정) | 한글 | 39,600원 | |
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4 | KS C IEC 62321-4상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량 | 2023-12-15(개정) | 한글 | 27,900원 | |
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5 | KS C IEC 62321-5상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제5부: AAS, AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자 부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과 금속에서 카드뮴과 납의 분석 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 37,600원 |
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