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KS C IEC 62321-3-1(2019 확인)
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝- 발행일 : 2019-12-16
- 발행기관 : 한국표준협회
- 국제표준 부합화 : IEC 62321－3-1:2013(IDT)
상세정보
| 분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 표준은 X선 형광(XRF) 분석법을 사용하여 전기전자 제품에서 발견되는 균질 재료 중 특히 납(Pb), 수은(Hg), 카드뮴(Cd), 총 크로뮴, 총 브로민(Br)의 다섯 가지 물질에 대한 스크리닝 분석에 대해 설명한다.이 표준은 폴리머, 금속, 세라믹 재료에 적용할 수 있다. 이 표준은 원료 물질, 제품에서 얻은 개별 재료 및 하나 이상의 재료로 된 “균질” 혼합물에 적용할 수 있다. 시료의 스크리닝은 어떠한 형태의 XRF 분광기를 사용해서 이루어질 수 있으며, 이 스크리닝은 이 표준에서 지정한 수행 특성을 갖고 있음을 제공한다. 모든 형식의 XRF가 시료의 모든 크기와 형태에 모두 적합하지는 않다. 그러므로 관련 작업에 적합한 분광기 선택에 주의해야 한다.이 표준에 따라 지정된 농도 범위를 벗어난 유사한 매체 내의 물질을 분석할 수는 있으나, 시험능력은 이 표준에 따라 확립되지는 않았다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Determination of certain substances in electrotechnical products — Part 3-1: Screening — Lead, mercury, cadmium, total chromium and total bromine by X-ray fluorescence spectrometry | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 | 13.020 : 환경보호 일반 43.040.10 : 전기장비 | ||||||||
| 국제표준 부합화 |
IEC 62321－3-1:2013(IDT)
※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2019-0477호) | ||||||||
| 고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 36 | ||||||||
이력정보
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
| KS C IEC 62321-3-1(2024 확인)상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2024-05-29 | 확인(표준) | 5년도래 확인 | |
| KS C IEC 62321-3-1(2019 확인)상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2019-12-16 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 62321-3-1상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2014-12-24 | 제정(구판) | IEC/TC111분야 국제표준 제정에 따른 부합화 제정 |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.
인용표준
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No | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
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1 | KS C IEC 62321－1상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제1부: 서론 및 개요 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 18,000원 | |
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2 | KS C IEC 62321-2상세보기 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 | 2024-12-06(개정) | 한글 | 45,600원 |
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