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KS C IEC 60749-21
반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험방법 — 제21부:땜질성- 발행일 : 2020-11-20
- 발행기관 : 한국표준협회
- 국제표준 부합화 : IEC 60749-21:2011(IDT)
상세정보
분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
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적용 범위 | KS C IEC 60749의 이번 부는 부착용 주석-납(SnPb) 또는 무연납(Pb-free) 솔더(solder)을 이용하여 다른 표면에 결합시키도록 고안된 소자 패키지 종단(termination)의 땜질성 측정에 대한 표준 절차를 설정한다. 이 시험방법은 소자 적용 시 사용되는 납땜 공정을 모의시험을 사용할 수 있도록 스루 홀 (through hole), 축 및 표면 실장 소자(SMD) 등의 ‘담금 및 관찰’ 땜질성 시험 절차뿐만 아니라, SMD의 보드 실장 땜질성 시험을 위한 선택 절차를 제공 한다. 시험 방법은 또한 에이징(ageing)을 위한 선택 조건을 제공한다. 이 시험은 관련 규격에 별도의 세부 내용이 없는 경우, 파괴 시험으로 간주한다. 비고 1 이 시험방법은 일반적으로 IEC 60068과 일치하지만, 반도체의 특정 요구사항으로 인해 다음의 같은 내용을 적용한다. 비고 2 이 시험방법은 납땜 공정 중에 발생할 수 있는 열응력의 영향을 평가하지 않는다. IEC 60749-15 또는 IEC 60749-20을 참조한다. | ||||||||
표준명(영어) | Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 21: Solderability | ||||||||
국제표준분류(ICS)코드 | 31.080.01 : 반도체 장치 일반 | ||||||||
국제표준 부합화 |
IEC 60749-21:2011(IDT)
※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2020-0394호) | ||||||||
고시사유 | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | ||||||||
KS심사기준 |
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페이지수 | 21 |
이력정보
표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS C IEC 60749-21상세보기 | 반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험방법 — 제21부:땜질성 | 2020-11-20 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
KS C IEC 60749-21(2015 확인)상세보기 | 반도체 소자-기계 및 기후적 환경 시험 방법-제21부:납땜성 | 2015-12-30 | 확인(구판) | ||
KS C IEC 60749-21(2010 확인)상세보기 | 반도체 소자-기계 및 기후적 환경 시험 방법-제21부:납땜성 | 2010-12-20 | 확인(구판) | ||
KS C IEC 60749-21상세보기 | 반도체 소자-기계 및 기후적 환경 시험 방법-제21부:납땜성 | 2005-12-28 | 제정(구판) |
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인용표준
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No | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 |
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