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    IEC 61000-4-11:1994/AMD1:2000

    Amendment 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measuring techniques - Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
    • 발행일 : 2000-11-09
    • 발행기관 : IEC
    • 대체표준 : IEC 61000-4-11:2004
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상세정보

분야 TC 77/SC 77B : High frequency phenomena
적용범위
국제분류(ICS)코드 33.100.20 : 내성
페이지수 5
Edition 1.0

이력정보

No. 표준번호 표준명 발행일 상태
1 IEC 61000-4-11:2020/COR2:2022상세보기 Corrigendum 2 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current up to 16 A per phase 2022-10-13 표준
2 CSA IEC 61000-4-11:22상세보기 Electromagnetic compatibility (EMC) — Part 4-11: Testing and measurement techniques — Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current up to 16 A per phase (Adopted IEC 61000-4-11:2020, third edition 2022-01-01 표준
3 IEC 61000-4-11:2020/COR1:2020상세보기 Corrigendum 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current up to 16 A per phase 2020-05-28 표준
4 IEC 61000-4-11:2020상세보기 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current up to 16 A per phase 2020-01-28 표준
5 IEC 61000-4-11:2020 RLV상세보기 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current up to 16 A per phase 2020-01-28 표준
6 CSA IEC 61000-4-11:19상세보기 Electromagnetic compatibility (EMC) — Part 4-11: Testing and measurement techniques — Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests (Adopted IEC 61000-4-11:2004, edition 2:2004, consolidated with amendment 1:2017) | Compatibilité 2019-01-01 폐지
7 IEC 61000-4-11:2004+AMD1:2017 CSV상세보기 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests 2017-05-18 구판
8 IEC 61000-4-11:2004/AMD1:2017상세보기 Amendment 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests 2017-05-18 구판
9 IEC 61000-4-11:2004상세보기 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests 2004-03-24 구판
10 IEC 61000-4-11:1994+AMD1:2000 CSV상세보기 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests 2001-03-28 구판
11 IEC 61000-4-11:1994/AMD1:2000상세보기 Amendment 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measuring techniques - Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests 2000-11-09 구판
12 IEC 61000-4-11:1994상세보기 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measuring techniques - Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests 1994-06-16 구판

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